Object
Atomic force microscopy
Atomic force microscopy is a high-resolution type of scanning probe microscopy with resolution on the order of fractions of a nanometre. It is used to measure the thickness and mechanical properties of the quasi-liquid layer on ice surfaces by dragging a sharp tip across the crystal lattice.
原子力显微镜是一种高分辨率的扫描探针显微镜，其分辨率可达纳米的几分之一。它通过将一个尖锐的探针拖过晶体晶格，用于测量冰表面准液态层的厚度和力学性质。
La microscopía de fuerza atómica es un tipo de microscopía de sonda escaneante de alta resolución, con una resolución del orden de fracciones de nanómetro. Se utiliza para medir el espesor y las propiedades mecánicas de la capa cuasilíquida en las superficies del hielo, arrastrando una punta afilada a través de la red cristalina.
التصوير المجهرى بقوة الذرة هو نوع عالى الدقة من المجاهر المجهرية الماسحة ذات الدقة من порядок كسور النانومتر. يُستخدم لقياس سمك الخواص الميكانيكية للطبقة شبه السائلة على Surfaces الجليد بجرد رأس حاد عبر شبكة البلور.
A microscopia de força atômica é um tipo de microscopia de sonda de varredura de alta resolução, com resolução da ordem de frações de nanômetro. É utilizada para medir a espessura e as propriedades mecânicas da camada quase-líquida em superfícies de gelo, arrastando uma ponta afiada sobre a rede cristalina.
परमाणु बल सूक्ष्मदर्शी एक उच्च निर्माण वाला स्कैनिंग प्रोब सूक्ष्मदर्शी है जिसका निर्माण नैनोमीटर के अंशों के क्रम में होता है। इसका उपयोग बर्फ की सतहों पर क्वासी-द्रव परत की मोटाई और यांत्रिक गुणों को मापने के लिए एक नुकीले टिप को क्रिस्टल जालक पर खींचकर किया जाता है।
Mikroskop gaya atom adalah jenis mikroskop probe pemindaian beresolusi tinggi dengan resolusi mencapai pecahan nanometer. Teknik ini digunakan untuk mengukur ketebalan dan sifat mekanik lapisan kuasi-cair pada permukaan es dengan menggeser ujung tajam di atas kisi kristal.
La microscopie à force atomique est un type de microscopie à sonde balayante à haute résolution, dont la résolution est de l'ordre de fractions de nanomètre. Elle est utilisée pour mesurer l'épaisseur et les propriétés mécaniques de la couche quasi-liquide sur les surfaces de glace en faisant glisser une pointe aiguë sur le réseau cristallin.
原子間力顕微鏡（AFM）は、解像度がナノメートルの一部に達する高解像度の走査プローブ顕微鏡である。この技術は、氷の表面に存在する準液体層の厚さや力学的性質を測定するために、鋭いプローブを結晶格子上を引きながら移動させることによって用いられる。
Атомно-силовая микроскопия — это высокоразрешающий тип сканирующей зондовой микроскопии, разрешающая способность которого составляет порядка долей нанометра. С ее помощью измеряют толщину и механические свойства квази-жидкого слоя на поверхностях льда, перемещая острую иглу по кристаллической решетке.
Die Rasterkraftmikroskopie ist eine hochauflösende Form der Rastersondenmikroskopie mit einer Auflösung im Bereich von Bruchteilen eines Nanometers. Sie wird dazu verwendet, die Dicke und die mechanischen Eigenschaften der quasiflüssigen Schicht auf Eiskristalloberflächen zu messen, indem eine scharfe Spitze über das Kristallgitter geführt wird.
원자력 현미경은 해상도가 나노미터의 수십분의 일 수준에 달하는 고해상도 스캐닝 프로브 현미경이다. 이 기술은 결정 격자 위를 날카로운 팁이 움직이며 얼음 표면의 준액체층 두께와 기계적 특성을 측정하는 데 사용된다.